Đinh Thanh Khan*, Nguyen Quy Tuan 2015. A Study of the curvature of a thick AlN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template using X-ray diffraction. Tạp chí Khoa học và Công nghệ - Đại học Đà Nẵng. 12, 97.1 (tháng 12 2015), 30–32.