Nguyễn Quang Cường; Nguyễn Ngọc Hiếu; Dụng Văn Lữ; Lê Thị Phương Thảo; Võ Thị Tuyết Vi. Ảnh hưởng của biến dạng Và điện trường ngoài Lên tính chất điện tử của đơn lớp HfSiSP2. UD-JST 2024, 22, 60-64.