Đinh Thanh Khan*, Nguyen Quy Tuan (2015) “A Study of the curvature of a thick AlN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template using X-ray diffraction”, Tạp chí Khoa học và Công nghệ - Đại học Đà Nẵng, 12(97.1), tr 30–32. Available at: https://jst-ud.vn/jst-ud/article/view/2704 (Truy cập: 3Tháng Bảy2024).