Nguyễn Quang Cường, Nguyễn Ngọc Hiếu, Dụng Văn Lữ, Lê Thị Phương Thảo và Võ Thị Tuyết Vi (2024) “Ảnh hưởng của biến dạng và điện trường ngoài lên tính chất điện tử của đơn lớp HfSiSP2”, Tạp chí Khoa học và Công nghệ - Đại học Đà Nẵng, 22(7), tr 60–64. Available at: https://jst-ud.vn/jst-ud/article/view/9193 (Truy cập: 20Tháng Chạp2024).