Vo Tien Dung, Nguyen Khac Tuan, Nguyen Anh Tuan, Ngo Thi Le, “Nhận dạng các hiện tượng nhiễu loạn chất lượng điện năng bằng sử dụng biến đổi wavelet rời rạc kết hợp với phân tích RMS”, UD-JST, vol 18, số p.h 4.1, tr 23–28, tháng 4 2020.