Nguyễn Quang Cường, Nguyễn Ngọc Hiếu, Dụng Văn Lữ, Lê Thị Phương Thảo, và Võ Thị Tuyết Vi, “Ảnh hưởng của biến dạng và điện trường ngoài lên tính chất điện tử của đơn lớp HfSiSP2”, UD-JST, vol 22, số p.h 7, tr 60–64, tháng 7 2024.